Hazelton D.W., Abrahamsen A.B., Grivel J., Sundaram A., Zermeno V.M., Wulff A.C., Lundeman J.H., Opata Y.A., Insinga A.R., Ryming A.E., Schweer-Gori F.
Ключевые слова: HTS, GdBCO, coated conductors, substrate Ni-W, chemical solution deposition, surface, defects, buffer layers, films epitaxial, precursors, X-ray diffraction, microstructure, aging, fabrication
Ключевые слова: TFA-MOD process, DyBCO, doping effect, composition, X-ray diffraction, microstructure, susceptibility, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.